Гост 18895 97 сталь метод фотоэлектрического спектрального анализа

Обновлено: 10.05.2024

Настоящий стандарт устанавливает фотоэлектрический спектральный метод определения в стали массовой доли элементов, %:

углерода от 0,010 до 2,0;

серы » 0,002 » 0,20;

фосфора » 0,002 » 0,20;

кремния » 0,010 » 2,5;

марганца » 0,050 » 5,0;

хрома » 0,010 » 10,0;

никеля » 0,010 » 10,0;

кобальта » 0,010 » 5,0;

алюминия » 0,005 » 2,0;

мышьяка » 0,005 » 0,20;

молибдена » 0,010 » 5,0;

вольфрама » 0,020 » 5,0;

ванадия » 0,005 » 5,0;

титана » 0,005 » 2,0;

ниобия » 0,010 » 2,0;

бора » 0,001 » 0,10;

циркония » 0,005 » 0,50.

Метод основан на возбуждении атомов элементов стали электрическим разрядом, разложении излучения в спектр, измерении аналитических сигналов, пропорциональных интенсивности или логарифму интенсивности спектральных линий, и последующем определении массовых долей элементов с помощью градуировочных характеристик.

2 НОРМАТИВНЫЕ ССЫЛКИ

В настоящем стандарте использованы ссылки на следующие стандарты:

ГОСТ 8.315-97 ГСИ. Стандартные образцы состава и свойств веществ и материалов. Основные положения

ГОСТ 2424-83 Круги шлифовальные. Технические условия

ГОСТ 6456-82 Шкурка шлифовальная бумажная. Технические условия

ГОСТ 7565-81 (ИСО 377-2-89) Чугун, сталь и сплавы. Метод отбора проб для химического состава

ГОСТ 10157-79 Аргон газообразный и жидкий. Технические условия

ГОСТ 21963-82 Круги отрезные. Технические условия

3 ОТБОР И ПОДГОТОВКА ПРОБ

Отбор и подготовка проб - по ГОСТ 7565 с дополнением. Поверхность пробы, предназначенную для обыскривания, затачивают на плоскость. На поверхности не допускаются раковины, шлаковые включения, цвета побежалости и другие дефекты.

4 АППАРАТУРА И МАТЕРИАЛЫ

Фотоэлектрические вакуумные и воздушные установки индивидуальной градуировки.

Отрезной станок типов 8230 и 2К337.

Шлифовальный станок модели ЗЕ881.

Точильно-шлифовальный станок (обдирочно-наждачный) типа ТЩ-500.

Универсальный станок для заточки электродов модели КП-35.

Токарно-винторезный станок модели 1604.

Отрезные диски 400×4×32 мм по ГОСТ 21963.

Электрокорундовые абразивные круги с керамической связкой, зернистостью № 50, твердостью СТ-2, размером 300×40×70 мм по ГОСТ 2424.

Шкурка шлифовальная бумажная типа 2 на бумаге марки БШ-200 (П7) из нормального электрокорунда зернистостью 40 - 60 по ГОСТ 6456.

Аргон газообразный высшего сорта по ГОСТ 10157.

Электропечь для сушки и чистки аргона типа СУОЛ-0.4.4/12-Н2-У4.2.

В случае применения вакуумных фотоэлектрических установок используют постоянные электроды-прутки серебряные, медные и вольфрамовые диаметром 5 - 6 мм или вольфрамовую проволоку диаметром 1 - 2 мм длиною не менее 50 мм.

Для воздушных фотоэлектрических установок используют медные прутки марок M00, M1, M2 по ГОСТ 859 и угольные стержни марки С3 диаметром 6 мм и длиной не менее 50 мм.

Для определения массовой доли элементов в прокатной стали применяют вакуумные и воздушные фотоэлектрические установки. Если образец не перекрывает полностью отверстие в штативе вакуумной установки, применяют контактную камеру (см. рисунок 1) или другое приспособление, ограничивающее отверстие в столе штатива.

1 - прокладки; 2 - пластина; 3 - пружина; 4 - контакт

Рисунок 1 - Контактная камера для вакуумного спектрометра

Допускается применение другой аппаратуры, оборудования и материалов, обеспечивающих точность анализа, предусмотренную настоящим стандартом.

5 ПОДГОТОВКА К АНАЛИЗУ

5.1 Подготовку установки к выполнению измерений проводят в соответствии с инструкцией по обслуживанию и эксплуатации установки.

5.2 Градуировку каждой фотоэлектрической установки осуществляют экспериментально при внедрении методики выполнения измерений с помощью стандартных образцов (СО) состава, аттестованных в соответствии с ГОСТ 8.315.

Допускается применение однородных проб, проанализированных стандартизованными или аттестованными методиками химического анализа.

Расчетным или графическим способом устанавливают градуировочные характеристики, которые выражают в виде формулы, графика или таблицы. Градуировочные характеристики используют для определения массовых долей контролируемых элементов непосредственно или с учетом влияния химического состава и физико-химических свойств объекта.

Для установок, сопряженных с ЭВМ, процедура градуировки определяется программным обеспечением. При этом точность результатов анализа должна удовлетворять требованиям настоящего стандарта.

5.4 При повторной градуировке допускается сокращение числа серий до двух.

5.5 В случае оперативной градуировки (получения градуировочных характеристик с каждой партией анализируемых проб) выполняют не менее двух параллельных измерений для каждого СО.

6 ПРОВЕДЕНИЕ АНАЛИЗА

6.1 Условия проведения анализа на фотоэлектрических установках приведены в приложении А (таблицы А.1, А.2).

6.2 Длины волн спектральных линий и диапазон значений массовых долей элементов приведены в приложении А (таблица А.3).

6.3 Выполняют два параллельных измерения значений аналитического сигнала для каждого контролируемого элемента анализируемой пробы в условиях, принятых при градуировке. Допускается выполнять три параллельных измерения.

7 ОБРАБОТКА РЕЗУЛЬТАТОВ

7.1 Если расхождение значений аналитического сигнала, выраженное в единицах массовой доли не более d_cx (таблица 1 ) для двух параллельных измерений и 1,2 d_cx для трех параллельных измерений, вычисляют среднее арифметическое значение.

Допускается выражать значение аналитического сигнала и расхождений параллельных измерений в единицах шкалы отсчетно-регистрирующего прибора фотоэлектрической установки. В этом случае d_cx выражают в единицах шкалы отсчетно-регистрирующего прибора с помощью установленных градуировочных характеристик.

В случае превышения расхождений параллельных измерений допускаемых значений d_cx (1,2 d_cx ) анализ повторяют.

7.2 За окончательный результат анализа принимают среднее арифметическое двух или трех параллельных измерений, соответствующих требованиям 7.1.

7.3 Контроль стабильности результатов анализа

7.3.1 Контроль стабильности градуировочных характеристик для верхнего и нижнего пределов диапазона измерений осуществляют не реже одного раза в смену с помощью СО или однородных проб. Допускается проводить контроль только для верхнего предела или середины диапазона измерений.

Для СО (пробы) выполняют два параллельных измерения аналитического сигнала. Значения аналитического сигнала N выражают в единицах массовой доли или шкалы отсчетно-регистрирующего прибора фотоэлектрической установки.

7.3.2 Если расхождение значений аналитического сигнала для параллельных измерений не превышает d_cx (таблица 1), вычисляют среднее арифметическое значение и разность D N = N ₀ - , где N ₀ - значение аналитического сигнала для СО (пробы), полученное способом, указанным в 5.3.

Таблица 1 - Нормы и нормативы контроля точности

Массовая доля элементов, %

Погрешность результата анализа D , %

между результатами двух параллельных измерений d_cx

между результатами анализа, выполненными в разных условиях d_в

между результатами спектрального и химического анализов d_п

между результатами воспроизведения характеристик СО, полученных при установлении градуировочных характеристик, и их значениями при контроле стабильности градуировочных характеристик δ_ст

7.3.3 Если D N превышает допускаемое значение δ_ст (таблица 1), измерения повторяют в соответствии с 7.3.1. Если при повторных измерениях D N превышает допускаемое значение, осуществляют восстановление градуировочной характеристики. Порядок восстановления градуировочной характеристики для каждой установки определяется ее аналитическими и конструктивными возможностями.

7.3.4 Внеочередной контроль стабильности осуществляют после ремонта или профилактики фотоэлектрической установки.

7.3.5 При оперативной градуировке контроль стабильности не проводят.

7.3.6 Для установок, сопряженных с ЭВМ, процедура контроля стабильности определяется программным обеспечением. При этом точность результатов анализа должна удовлетворять требованиям настоящего стандарта.

7.4 Контроль воспроизводимости результатов анализа

7.4.1 Контроль воспроизводимости результатов спектрального анализа выполняют определением массовых долей элементов в проанализированных ранее пробах.

7.4.2 Число повторных определений должно быть не менее 0,3 % общего числа определений за контролируемый период.

7.4.3 Воспроизводимость измерений считают удовлетворительной, если число расхождений первичного и повторного анализа, превышающих допускаемое значение d _в (таблица 1) составляет не более 5 % числа проконтролированных результатов.

7.5 Контроль правильности результатов анализа

7.5.1 Контроль правильности проводят выборочным сравнением результатов спектрального анализа проб с результатами химического анализа, выполняемого стандартизованными или аттестованными методиками.

7.5.2 Число результатов при контроле правильности должно быть не менее 0,3 % общего числа определений за контролируемый период.

7.5.3 Правильность измерений считают удовлетворительной, если число расхождений результатов спектрального и химического анализа, превышающих допускаемое значение d _п (таблица 1), составляет не более 5 % числа проконтролированных результатов.

7.5.4 Допускается выполнять контроль правильности методом спектрального анализа на основе воспроизведения значений массовых долей элементов в СО предприятия.

7.6 При выполнении требований настоящего стандарта погрешность результата анализа (при доверительной вероятности 0,95) не должна превышать предельного значения D (таблица 1).

ПРИЛОЖЕНИЕ А

(рекомендуемое)

Условия проведения анализа на фотоэлектрических установках

Воздушные фотоэлектрические установки

Спектрометры ФЭС-1 и ФСПА-У, генераторы ГЭУ-1 и ИВС-28. Дуга переменного тока

Гост 18895 97 сталь метод фотоэлектрического спектрального анализа

Метод фотоэлектрического спектрального анализа

Steel. Method of photoelectric spectral analysis

1 РАЗРАБОТАН Российской Федерацией, Межгосударственным техническим комитетом МТК 145 "Методы контроля металлопродукции"

ВНЕСЕН Госстандартом России

2 ПРИНЯТ Межгосударственным Советом по стандартизации, метрологии и сертификации (протокол N 11-97 от 25 апреля 1997 г.)

За принятие проголосовали:

Наименование национального органа по стандартизации

Госстандарт Республики Казахстан

Главная государственная инспекция Туркменистана

3 Постановлением Государственного комитета Российской Федерации по стандартизации, метрологии и сертификации от 23 сентября 1997 г. N 332 межгосударственный стандарт ГОСТ 18895-97 введен в действие непосредственно в качестве государственного стандарта Российской Федерации с 1 января 1998 г.

5 ПЕРЕИЗДАНИЕ. Январь 2002 г.

1 ОБЛАСТЬ ПРИМЕНЕНИЯ

ГОСТ 2424-83* Круги шлифовальные. Технические условия

* На территории Российской Федерации документ не действует. Действует ГОСТ Р 52781-2007, здесь и далее по тексту. - Примечание изготовителя базы данных.

ГОСТ 21963-82* Круги отрезные. Технические условия

* На территории Российской Федерации документ не действует. Действует ГОСТ 21963-2002, здесь и далее по тексту. - Примечание изготовителя базы данных.

Шлифовальный станок модели 3Е881.

Отрезные диски 400х4х32 мм по ГОСТ 21963.

Электрокорундовые абразивные круги с керамической связкой, зернистостью N 50, твердостью СТ-2, размером 300х40х70 мм по ГОСТ 2424.

В случае применения вакуумных фотоэлектрических установок используют постоянные электроды-прутки серебряные, медные и вольфрамовые диаметром 5-6 мм или вольфрамовую проволоку диаметром 1-2 мм длиною не менее 50 мм.

1 - прокладки; 2 - пластина; 3 - пружина; 4 - контакт

Рисунок 1 - Контактная камера для вакуумного спектрометра

5.3 При первичной градуировке выполняют не менее пяти серий измерений в разные дни работы фотоэлектрической установки. В серии для каждого СО проводят по две пары параллельных (выполняемых одно за другим на одной поверхности) измерений. Порядок пар параллельных измерений для всех СО в серии рандомезируют. Вычисляют среднее арифметическое значение аналитических сигналов по серии и среднее арифметическое значение аналитических сигналов для пяти серий измерений для каждого СО.

ПРИЛОЖЕНИЕ А

ГОСТ 18895-97 Сталь. Метод фотоэлектрического спектрального анализа.

1 область применения


416 × 1081 пикс. Открыть в новом окне

2 нормативные ссылки

3 отбор и подготовка проб

4 аппаратура и материалы


361 × 325 пикс. Открыть в новом окне

5 подготовка к анализу

ГОСТ 18895–97 Сталь. Метод фотоэлектрического спектрального анализа

3 Постановлением Государственного комитета Российской Федерации по стандартизации, метрологии и сертификации от 23 сентября 1997 г. N 332 межгосударственный стандарт введен в действие непосредственно в качестве государственного стандарта Российской Федерации с 1 января 1998 г.

5 ПЕРЕИЗДАНИЕ. Январь 2002 г.

1 ОБЛАСТЬ ПРИМЕНЕНИЯ

углерода	от	0,010	до	2,0;
серы	«	0,002	«	0,20;
фосфора	«	0,002	«	0,20;
кремния	«	0,010	«	2,5;
марганца	«	0,050	«	5,0;
хрома	«	0,010	«	10,0;
никеля	«	0,010	«	10,0;
кобальта	«	0,010	«	5,0;
меди	«	0,010	«	2,0;
алюминия	«	0,005	«	2,0;
мышьяка	«	0,005	«	0,20;
молибдена	«	0,010	«	5,0;
вольфрама	«	0,020	«	5,0;
ванадия	«	0,005	«	5,0;
титана	«	0,005	«	2,0;
ниобия	«	0,010	«	2,0;
бора	«	0,001	«	0,10;
циркония	«	0,005	«	0,50.

ГОСТ 8.315−97 ГСИ. Стандартные образцы состава и свойств веществ и материалов. Основные положения

ГОСТ 859−2001 Медь. Марки

ГОСТ 2424−83* Круги шлифовальные. Технические условия
________________
* На территории Российской Федерации документ не действует. Действует ГОСТ Р 52781−2007, здесь и далее по тексту. — Примечание изготовителя базы данных.

ГОСТ 6456−82 Шкурка шлифовальная бумажная. Технические условия

ГОСТ 7565−81 (ИСО 377−2-89) Чугун, сталь и сплавы. Метод отбора проб для химического состава

ГОСТ 10157−79 Аргон газообразный и жидкий. Технические условия

ГОСТ 21963−82* Круги отрезные. Технические условия
________________
* На территории Российской Федерации документ не действует. Действует , здесь и далее по тексту. — Примечание изготовителя базы данных.

Отбор и подготовка проб — по с дополнением. Поверхность пробы, предназначенную для обыскривания, затачивают на плоскость. На поверхности не допускаются раковины, шлаковые включения, цвета побежалости и другие дефекты.

Отрезные диски 400х4х32 мм по .

Электрокорундовые абразивные круги с керамической связкой, зернистостью N 50, твердостью СТ-2, размером 300х40х70 мм по .

Шкурка шлифовальная бумажная типа 2 на бумаге марки БШ-200 (П7) из нормального электрокорунда зернистостью 40−60 по .

Аргон газообразный высшего сорта по .

В случае применения вакуумных фотоэлектрических установок используют постоянные электроды-прутки серебряные, медные и вольфрамовые диаметром 5−6 мм или вольфрамовую проволоку диаметром 1−2 мм длиною не менее 50 мм.

Для воздушных фотоэлектрических установок используют медные прутки марок M00, M1, M2 по и угольные стержни марки С3 диаметром 6 мм и длиной не менее 50 мм.

Рисунок 1 — Контактная камера для вакуумного спектрометра

1 — прокладки; 2 — пластина; 3 — пружина; 4 — контакт

Рисунок 1 — Контактная камера для вакуумного спектрометра

6.1 Условия проведения анализа на фотоэлектрических установках приведены в приложении, А (таблицы А.1, А.2).

6.2 Длины волн спектральных линий и диапазон значений массовых долей элементов приведены в приложении, А (таблица А.3).

7.1 Если расхождение значений аналитического сигнала, выраженное в единицах массовой доли, не более выражают в единицах массовой доли или шкалы отсчетно-регистрирующего прибора фотоэлектрической установки.

между результатами двух параллель-
ных измерений

между резуль-
татами спектраль-
ного и химичес-
кого анализов

7.3.3 Если превышает допускаемое значение (таблица 1), измерения повторяют в соответствии Если при повторных измерениях превышает допускаемое значение, осуществляют восстановление градуировочной характеристики. Порядок восстановления градуировочной характеристики для каждой установки определяется ее аналитическими и конструктивными возможностями.

7.4.2 Число повторных определений должно быть не менее 0,3% общего числа определений за контролируемый период.

7.4.3 Воспроизводимость измерений считают удовлетворительной, если число расхождений первичного и повторного анализа, превышающих допускаемое значение (таблица 1) составляет не более 5% числа проконтролированных результатов.

7.5.2 Число результатов при контроле правильности должно быть не менее 0,3% общего числа определений за контролируемый период.

Читайте также: